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上海聞奕光電光纖光譜儀EQ4000
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:上海更新時(shí)間:2020-11-26 10:30
品 牌:聞奕光電型 號(hào):EQ4000
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2005
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
聯(lián) 系 人: 上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話(huà): 400-006-7520
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光電光纖光譜儀EQ4000
產(chǎn)品特點(diǎn)
| 1、EQ4000光纖光譜儀采用USB2.0接口,USB供電 |
| 2、光學(xué)分辨率可至~0.10-4.88 nm FWHM,分辨率依賴(lài)于光柵刻線(xiàn)和狹縫寬度 |
| 3、多種光柵選擇,可對(duì)客戶(hù)需要的波段進(jìn)行增強(qiáng) |
| 4、EQ4000光纖光譜儀擁有電子快門(mén),防止探測(cè)器飽和 |
| 5、具有寬譜段技術(shù)EQ4000 EX全波段光纖光譜儀探測(cè)范圍可達(dá)200-1100 nm |
| 6、可選狹縫5, 10, 25, 50, 100和200 um,狹縫寬度會(huì)影響靈敏度和光學(xué)分辨率 |
| 7、可選的高階濾光片用于濾除二階及三階光譜,EQ4000 EX全波段光纖光譜儀采用EX可變高階濾光片 |
產(chǎn)品參數(shù)
光電光纖光譜儀EQ4000
探測(cè)器(典型值)
項(xiàng)目 | 值 |
類(lèi)型: | Toshiba TCD1304DG 線(xiàn)陣CCD |
探測(cè)范圍: | 300 – 1100 nm |
像素: | 3648像素 |
像素尺寸: | 8 um x 200 um |
像素阱深: | ~100,000 electrons |
靈敏度: | 130 photons/count at 400 nm; 60 photons/count at 600 nm |
光學(xué)平臺(tái)
項(xiàng)目 | 值 |
設(shè)計(jì): | f/4, 對(duì)稱(chēng)交叉光路 |
焦距: | 100 mm |
入射狹縫: | 5, 10, 25, 50, 100和200 nm,或者無(wú)狹縫 |
光柵選擇: | 從紫外至近紅外光柵 |
EX光柵: | 提供200-1100 nm寬譜段范圍 |
探測(cè)器聚光鏡: | 可選購(gòu) |
消二級(jí)濾光片: | OFLV-200-1100 |
其他濾光片: | 長(zhǎng)波通濾光片 |
光纖接口: | SMA905 |
光譜儀
項(xiàng)目 | 值 |
波長(zhǎng)范圍: | 依賴(lài)光柵選擇 |
光學(xué)分辨率: | ~0.035-8.4 nm FWHM |
信噪比: | 300:1 |
A/D分辨率: | 16位 |
暗背景: | 12 RMS counts |
靈敏度: | 2 x 10^8 (系統(tǒng)); 單次采集1300:1 |
積分時(shí)間: | 1毫秒至2秒 |
雜散光: | < 0.05% at 600 nm; < 0.10% at 435 nm |
矯正線(xiàn)性度: | >99.8% |
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
| 1、EQ4000光纖光譜儀采用USB2.0接口,USB供電 |
| 2、光學(xué)分辨率可至~0.10-4.88 nm FWHM,分辨率依賴(lài)于光柵刻線(xiàn)和狹縫寬度 |
| 3、多種光柵選擇,可對(duì)客戶(hù)需要的波段進(jìn)行增強(qiáng) |
| 4、EQ4000光纖光譜儀擁有電子快門(mén),防止探測(cè)器飽和 |
| 5、具有寬譜段技術(shù)EQ4000 EX全波段光纖光譜儀探測(cè)范圍可達(dá)200-1100 nm |
| 6、可選狹縫5, 10, 25, 50, 100和200 um,狹縫寬度會(huì)影響靈敏度和光學(xué)分辨率 |
| 7、可選的高階濾光片用于濾除二階及三階光譜,EQ4000 EX全波段光纖光譜儀采用EX可變高階濾光片 |
關(guān)鍵技術(shù)
| EX寬譜段技術(shù) | |
| EX技術(shù)是聞奕光電的核心技術(shù)之***,包括了EX全波段濾光片技術(shù)和EX可變波長(zhǎng)閃耀光柵技術(shù)。 EX技術(shù)可以將光譜儀***次采譜波段拓展至深紫外190 nm至近紅外1100 nm波段。 |
應(yīng)用:
EQ2000由于其優(yōu)良性能,具有極高的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力和廣闊的應(yīng)用空間,下面是其在透射式光譜檢測(cè)中的應(yīng)用實(shí)例:

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