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Inspect™ 掃描電子顯微鏡
價 格:詢價
產(chǎn) 地:美國更新時間:2020-10-29 11:49
品 牌:FEI型 號:Inspect
狀 態(tài):正常點擊量:1096
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用于納米尺度研究的重要掃描電子顯微鏡
Inspect 系列掃描電子顯微鏡 (SEM)采用先進(jìn)的樣品室真空技術(shù) 以及 FEI 的世界***流電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量 技術(shù)。 只要檢驗、表征、工藝控制和 失效分析至關(guān)重要,則 Inspect S50 和 Inspect F50 型顯微鏡的高分辨率成像必不可少。 直觀的用戶界面和 軟件、直接通過工具欄即可訪問的為記錄和存儲圖像所需的所有功能 非常適合多用戶 環(huán)境,同時全方位地操作可應(yīng)用各種樣品 桿的樣品臺給儀器帶來了額外的使用價值和靈活性,滿足對不同樣品大小和應(yīng)用的需求。
下載 Inspect S50 SEM 數(shù)據(jù)表
下載 Inspect F50 SEM 數(shù)據(jù)表
易用且直觀的軟件可確保初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作
? 輕松表征導(dǎo)電和絕緣樣品(S50 型)
? 確保使用穩(wěn)定的高電流 FEG (***高 200 nA)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的 EDS 和 EBSD 分析(F50 型)
? 使樣品制備數(shù)量降至***低: 低真空可實現(xiàn)絕緣樣品的非荷電成像和分析(S50 型)
? 大幅減少更改加速電壓 (kV) 時對鏡筒的調(diào)整。 所有調(diào)整均會依據(jù)用戶選擇的加速電壓及/或照射點設(shè)置自動執(zhí)行(F50 型)
? 確保在高真空和低真空條件下進(jìn)行準(zhǔn)確的導(dǎo)電和絕緣樣品 EDS 和 EBSD 分析, 使用“經(jīng)由透鏡”專利抽氣技術(shù)創(chuàng)造高真空和低真空環(huán)境(S50 型)
? 利用可選射束減速模式獲取導(dǎo)電樣品的表面和成分信息(F50 型)
產(chǎn)品參數(shù)
分辨率 | 加速電壓 | 探針電流 | |
| Inspect S | 高真空
低真空
| 200V – 30kV | 高達(dá) 2 μA,可持續(xù)調(diào)節(jié) |
| Inspect F | 高真空
| 200V – 30kV | 高達(dá) 2 μA,可持續(xù)調(diào)節(jié) |






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